| 共聚焦显微镜 | ||
| 型号 | ACM-2000 | |
| 光学系统 | 检测模式 | 共聚焦成像 |
| 光源 | LED | |
| 物镜配置 | 5X/20X/50X/100X | |
| 视场 | >2mm@5X | |
| 扫描效率 | ＞80FPS | |
| 纵向测量 | 分辨率 | 10nm |
| 重复性 | 50X&100X：≤30nm | |
| 横向测量 | 分辨率 | 150nm |
| 重复性 | 50X&100X：≤50nm | |
| 软件算法功能 | 支持低倍率显微拼接快速建立宏观导航图像，可在宏观图像上选点，自动定位至该点进行高倍激光共聚焦/显微成像观测 | |
| 支持全局实时动态自动对焦+三维扫描参数自动设置 | ||
| 支持三维图像拼接以及显微图像拼接 | ||
| 图像分析工具提供三维图像的倾斜角度矫正、图像噪声自动滤除等功能，支持长度、宽度、高度、角度、面积等尺寸测量 | ||
| 支持表面粗糙度测量，可输出符合ISO 25178标准规定的表面粗糙度参数（如Sa, Sq, Sz,等） | ||
| 图像分析及测试结果可一键导出，生成相应的检测结果文档 | ||
| XY载物台配置 | XY行程 | 100mm X 100mm |
| 驱动方式 | 电动 | |
| 使用环境 | 环境温度：25℃±5℃ 环境湿度：30%-70%RH(无凝结) | |
80FPS高帧率扫描，快速获取微观三维图像
一键式操作：自动对焦，扫描参数智能适配，无需复杂设置，即可获得专业级采集效果。
高精确度与高重复性：纳米级分辨率，搭配独特的抗干扰光学系统，确保数据具有良好的重复性和一致性，结果可靠稳定。
如果您对本款产品有意向，想了解更多可以给 我们留言，我们将在第一时间与您联系
中文
英文
